STM32F10x SPI与I2S固件库采样时间中文手册
该手册介绍了STM32F10x SPI和I2S固件库中采样时间相关概念，包括：
- 满度误差：模拟输入电压测量值与理论值之间的误差
- 积分线性误差：转换特征偏离理想线性的程度
- 微分线性误差：实际测量值与理想值之间的差距
- 采样时间：从开始采样到获取数字输出所经历的时间
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